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XPE26 微量分析天平

XPE 微量分析天平將最大秤量與最小秤量有機(jī)的結(jié)合在一起。 可直接在較大的去皮容器中加樣,從而有效的節(jié)省貴重的原材料并 大幅降低實(shí)驗(yàn)成本。

  • 品牌: METTLER/梅特勒
  • 型號(hào): XPE26
  • 其他型號(hào):
最大秤量22 g
可讀性1 μg
最小稱量值 (USP),典型值1.4 mg
重復(fù)性(校驗(yàn)砝碼)0.004 mg (1 g)
線性誤差(典型值)±0.01 mg
穩(wěn)定時(shí)間3.5 s
尺寸 (高x寬)322 mm x 263 mm
秤盤外形尺寸(深x寬)40 mm x 40 mm